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植物冠层分析系统/仪是测量作物田间长势诊断的有力工具，主要用于作物叶片及冠层光谱的测量，可现场诊断作物的营养状况，可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射（PAR）等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。
托普云农科技生产有多种冠层分析仪，可助力科研院所、高等院校等进行植物学研究。冠层分析仪TOP-1200选用敏感波段的光源照射作物冠层，感光部件同步获取冠层反射光谱信息，耦合作物生长监测诊断模型，能获取作物冠层信息、养分信息、土壤养分信息、土壤养分信息、环境参数、病虫害程度等。
TP-3051D光合作用检测仪主要应用于农林业、园艺、微生物、昆虫等专业行业及科学试验中。可以测定CO2浓度、叶片温度、光合有效辐射、叶室温湿度，通过科学计算可得出叶片光合速率 、叶片蒸腾速率、细胞间CO2浓度、气孔导度、水分利用率等光合作用指标。
GXY-B植物根系分析系统专用于洗根后的植物根系分析，系统软件可以测量分析植物根系长度、直径、表面积、体积、根尖数、分叉数、关节点、连接点数、交叠数、根瘤、盒维数等，也可测量针叶面积、体积、棉纤维粗细、长度等，适用于植物根系形态学、构造研究、植物科学研究等，解决根系结构和几何参数难以获取的问题，提升从业人员工作效率。
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